倫敦2021年3月25日 /美通社/ -- 全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試插座和測試應(yīng)用解決方案供應(yīng)商史密斯英特康宣布推出其應(yīng)用于外圍IC測試的Joule 20高頻測試插座。

當(dāng)前隨著5G等高速通訊標準的升級，新的RF芯片廣泛應(yīng)用于手機，平板，可穿戴設(shè)備，無人駕駛汽車等移動設(shè)備，對RF射頻測試插座的需求越來越多，標準也越來越高。Joule 20出色的接觸技術(shù)和高頻能力有效的保證了信號傳輸?shù)目煽啃院屯暾浴４送猓鋭?chuàng)新的設(shè)計結(jié)構(gòu)可允許拆卸測試插座外殼而無需將其從PCB板上卸下，在設(shè)備測試期間仍然可進行清潔和維護工作，從而大大減少了設(shè)備停機時間并提高了測試產(chǎn)量。

Joule 20射頻測試插座具有出色的機械和電氣性能：

• 插入插槽，匹配現(xiàn)有的PCB插槽尺寸
• 極短的信號路徑，可提供高達20 GHz的高帶寬
• 芯片和PCB之間的接觸電阻非常低，從而提高了測試良率
• 高頻能力確保信號完整性和可靠性
• 散熱能力支持從-40°C到+125°C
• 接觸壽命長，最多插拔次數(shù)可達到500,000次

 “近年來數(shù)字時代的加速發(fā)展，對新的消費電子產(chǎn)品以及自動駕駛汽車產(chǎn)生了巨大的需求。集成電路的速度變得越來越快，功能越來越復(fù)雜，這就要求更高的測試可靠性和更少的測試時間以將產(chǎn)品快速推出市場。” 史密斯英特康半導(dǎo)體測試業(yè)務(wù)部副總裁兼總經(jīng)理Bruce Valentine說。 “史密斯英特康的研發(fā)腳步也不敢懈怠，Joule 20射頻測試插座的解決方案可以大大提高測試生產(chǎn)量以及滿足對外圍封裝技術(shù)（QFN，QFP和SOIC）更快，更可靠且可重復(fù)的測試需求。”

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